Получение субпиксельного разрешения при регистрации изображений спектров фотодиодными структурами

Аннотация

Работа посвящена вопросам повышения разрешающей способности фотометра при регистрации изображений фотодиодными линейками применительно к регистрации спектров на эмиссионных спектрометрах. Рассматривается случай, когда размер пиксела фотодиодной структуры превосходит размеры пятна замытия оптического прибора (аппаратной функции). Показано, что сочетание параллельного способа регистрации всех точек изображения с последовательным его смещением относительно регистрирующей структуры позволяет зарегистрировать изображение без потери разрешающей способности оптической части прибора при произвольно большом пикселе детектора. Задача обработки результатов измерений сводится к решению несовместной системы линейных уравнений. Предлагается алгоритм решения полученной системы уравнений, и приводятся результаты, иллюстрирующие действие этого алгоритма.